檢索結果:共1筆資料 檢索策略: pass_date={"gte":"2023-10-20"} and stat="3" and ckeyword.raw="智慧製造"
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自動光學檢測 (AOI) 面臨照明不均勻、陰影遮擋和相機視角變化等挑戰,導致漏報。 雖然常見的解決方案採用需要大量訓練數據的卷積神經網路 (CNN),但這對於 AOI 中的缺陷產品樣本來說通常不切實…